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A wafer-level testing technique for the qualification of manufacturing processes for photonic circuits
2013/2014 ALIPPI, ANDREA
Analisi e caratterizzazione di elementi ottico integrati in fosfuro d'indio per fonderie generiche
2010/2011 CIABARRI, STEFANO
Modellizzazione e caratterizzazione di filtri ottico integrati del primo ordine in fosfuro d'indio
2011/2012 GAMBINI, FABRIZIO
Process design kits implementation for advanced InP-based photonic technologies
2014/2015 LOVATI, EVA
Struttura e metodologia per test on wafer per l'ottica integrata
2011/2012 FIGLIOLIA, GIUSEPPE
| Fulltext | Data | Tipo | Titolo | Autore (i) |
|---|---|---|---|---|
| 2015-04-29 | Tesi di laurea Magistrale | A wafer-level testing technique for the qualification of manufacturing processes for photonic circuits | ALIPPI, ANDREA | |
| 2011-12-20 | Tesi di laurea Magistrale | Analisi e caratterizzazione di elementi ottico integrati in fosfuro d'indio per fonderie generiche | CIABARRI, STEFANO | |
| 2012-10-04 | Tesi di laurea Magistrale | Modellizzazione e caratterizzazione di filtri ottico integrati del primo ordine in fosfuro d'indio | GAMBINI, FABRIZIO | |
| 2015-07-28 | Tesi di laurea Magistrale | Process design kits implementation for advanced InP-based photonic technologies | LOVATI, EVA | |
| 2012-12-20 | Tesi di laurea Magistrale | Struttura e metodologia per test on wafer per l'ottica integrata | FIGLIOLIA, GIUSEPPE |
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