Burn-in test is performed to evaluate the reliability of an integrated circuits at earlier stages, the burn-in system consists of drivers, boards, sockets, ovens, chambers, and test program. There are different types of this test, static, dynamic, monitored and test-in burn-in and they measure the response of device under test (DUT) in specified operating conditions. In general, the lifetime plot of an electronic device is often shown by bathtub curve and this curve can be estimated by different probability density functions. Burn-in test is ideally supposed to include failures related to DUTs but in real case, its consistent components also introduce some false failures not related to tested devices. These failures can be found by analyzing records of burn-in test result, they must be removed to find out DUT failures. Finally, false failures can be reported to maintenance units to fix the present problems in burn-in system to avoid their further occurrences in next burn-in tests.

Test di burn-in viene eseguito per valutare l'affidabilità di un circuito integrato nelle fasi precedenti, il sistema di burn-in è costituito da driver, schede, prese, forni, camere e programma di test. Esistono diversi tipi di questo test, statico, dinamico, monitorato e test-in burn-in e misurano la risposta del dispositivo in prova (DIP) in condizioni operative specificate. generalmente, il grafico della durata di un dispositivo elettronico è spesso mostrato dalla curva di bathtub e questa curva può essere stimata da diverse funzioni di densità di probabilità. Il test di burn-in dovrebbe idealmente includere fallimenti relativi ai DIP, ma nel caso reale, i suoi componenti coerenti introducono anche alcuni fallimenti falsi non correlati ai dispositivi testati. Questi fallimenti possono essere trovati analizzando i record del risultato del test di burn-in, devono essere rimossi per scoprire i fallimenti collegati a DIP. Infine, i fallimenti falsi possono essere segnalati alle squadra di manutenzione per risolvere i problemi presenti nel sistema di burn-in per evitare che si ripetano nei prossimi test di burn-in.

Analysis of burn-in test result for detection of false failures and maintenance of the burn-in system components

ALEBRAHIMDEHKORDI, ALI
2020/2021

Abstract

Burn-in test is performed to evaluate the reliability of an integrated circuits at earlier stages, the burn-in system consists of drivers, boards, sockets, ovens, chambers, and test program. There are different types of this test, static, dynamic, monitored and test-in burn-in and they measure the response of device under test (DUT) in specified operating conditions. In general, the lifetime plot of an electronic device is often shown by bathtub curve and this curve can be estimated by different probability density functions. Burn-in test is ideally supposed to include failures related to DUTs but in real case, its consistent components also introduce some false failures not related to tested devices. These failures can be found by analyzing records of burn-in test result, they must be removed to find out DUT failures. Finally, false failures can be reported to maintenance units to fix the present problems in burn-in system to avoid their further occurrences in next burn-in tests.
ING - Scuola di Ingegneria Industriale e dell'Informazione
7-ott-2021
2020/2021
Test di burn-in viene eseguito per valutare l'affidabilità di un circuito integrato nelle fasi precedenti, il sistema di burn-in è costituito da driver, schede, prese, forni, camere e programma di test. Esistono diversi tipi di questo test, statico, dinamico, monitorato e test-in burn-in e misurano la risposta del dispositivo in prova (DIP) in condizioni operative specificate. generalmente, il grafico della durata di un dispositivo elettronico è spesso mostrato dalla curva di bathtub e questa curva può essere stimata da diverse funzioni di densità di probabilità. Il test di burn-in dovrebbe idealmente includere fallimenti relativi ai DIP, ma nel caso reale, i suoi componenti coerenti introducono anche alcuni fallimenti falsi non correlati ai dispositivi testati. Questi fallimenti possono essere trovati analizzando i record del risultato del test di burn-in, devono essere rimossi per scoprire i fallimenti collegati a DIP. Infine, i fallimenti falsi possono essere segnalati alle squadra di manutenzione per risolvere i problemi presenti nel sistema di burn-in per evitare che si ripetano nei prossimi test di burn-in.
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