Sviluppo di una macchina per la verifica dei parametri elettrici di dispositivi microelettronici e ASIC

Lo scopo di questo lavoro di tesi è stato la realizzazione di una macchina di test per dispositivi optoelettronici contenenti fotodiodi o fototransistori. La macchina sviluppata è ad azionamento manuale, con test automatizzato gestito da una scheda a microcontrollore. I test eseguiti sui dispositivi prevedono un test di guadagno, in cui viene controllato il guadagno al buio e quello a dispositivo illuminato e un test di isolamento, in cui sono ricercati eventuali cortocircuiti non voluti tra le diverse piazzole. Partendo da un prototipo non funzionante, sono state riprogettate parti della meccanica e dell’elettronica ed è stato scritto il software di controllo. Sono stati poi eseguiti dei test sulla macchina per valutarne l’effettivo funzionamento. Dopo una breve introduzione al lavoro svolto, il primo capitolo tratta dei requisiti della macchina di test, con un’introduzione ai sensori ottici, in particolare fotodiodi e fototransistori. Nel secondo capitolo è introdotta la meccanica della macchina, con una descrizione della struttura esterna e del suo funzionamento. Il terzo capitolo tratta invece della parte elettronica, con la descrizione del lavoro svolto sulla scheda di interconnessione, il pannello illuminante e il blocchetto porta aghi. Nel quarto capitolo è descritto il codice di controllo della macchina, scritto in linguaggio C. Il quinto capitolo contiene i risultati dei test di corretto funzionamento dell’apparato. Nel sesto e ultimo capitolo, si traggono le conclusioni del lavoro svolto e si accenna ai possibili sviluppi futuri.