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POLITesi - Archivio digitale delle tesi di laurea e di dottorato

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Fulltext Data Tipo Titolo Autore (i)
2015-09-30 Tesi di laurea Magistrale Analisi a singolo elettrone della programmazione di array di memorie flash NAND di nanoscala NICOSIA, GIANLUCA
2017-04-28 Tesi di laurea Magistrale Analisi delle dinamiche di stringa indotte da GIDL in matrici di memoria NAND Flash 3D MALAVENA, GERARDO
2018-12-20 Tesi di laurea Magistrale Caratterizzazione elettrica di celle NOR Flash per applicazioni neuromorfiche DIKA, MATILDA
2019-10-03 Tesi di laurea Magistrale Caratterizzazione sperimentale di celle di memoria FTJ FUMAGALLI, IVAN
2016-02-24 Tesi di Dottorato Characterization and modeling of innovative solid-state memory technologies MULAOSMANOVIC, HALID
2014-12-18 Tesi di laurea Magistrale Fenomeni di interferenza nella ritenzione del dato post-ciclatura di memorie flash NAND di nanoscala COLOMBO, FILIPPO
2020-12-22 Tesi di Dottorato Flash memory technologies: evolution towards 3-D architectures and application to neuromorphic computing Malavena, Gerardo
2024-10-10 Tesi di laurea Magistrale Implementation of a wafer-level test setup for reliability assessment of GaN devices GHARIB, AMGAD SABER BADAWY
2019-10-03 Tesi di laurea Magistrale Investigation of program efficiency in 3D NAND Flash cells by numerical study of ISPP slope KHAN, JALAL
2022-04-28 Tesi di laurea Magistrale Modeling of current transport in ferroelectric tunnel junctions based on the Pt/BaTiO3/Nb:SrTiO3 stack Dossena, Mauro
2014-10-03 Tesi di laurea Magistrale Modellistica del funzionamento dinamico di celle T-RAM RESNATI, DAVIDE
2018-12-20 Tesi di laurea Magistrale Parametric analysis of cycling-induced degradation in 3D-NAND flash arrays GRANATA, ELISA MADDALENA
2019-02-08 Tesi di Dottorato Performance and reliability issues of NAND Flash cells at the transition from planar to 3-D array architectures NICOSIA, GIANLUCA
2018-01-17 Tesi di Dottorato Physical modeling of nanoscale NAND Flash memory reliability RESNATI, DAVIDE
2017-10-03 Tesi di laurea Magistrale Read-induced VT instability caused by poly-Si traps in vertical-channel 3D NAND flash memories MAFFE', MICHELE
2013-07-23 Tesi di laurea Magistrale Studio dell'ampiezza dell'RTN nei dispositivi MOS di nanoscala mediante sIFM TORRENTE, GIULIO
2012-12-20 Tesi di laurea Magistrale Studio sperimentale di celle T-RAM per memorie volatili di prossima generazione MULAOSMANOVIC, HALID
2012-04-23 Tesi di laurea Magistrale Sviluppo e validazione di modelli discreti per lo studio della dispersione di soglia e delle correnti di perdita nei MOSFET FRASSON, DIEGO
2020-12-22 Tesi di Dottorato TCAD modeling of current transport and main reliability issues of polysilicon-channel 3-D NAND Flash strings MANNARA, AURELIO
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