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Advanced reliability issues in 3D NAND Flash memories
2023/2024 GIULIANINI, MATTIA
Analysis of the Down-coupling phenomenon in 3D NAND flash memories
2019/2020 GIULIANINI, MATTIA
Analysis of the Meyer-Neldel rule in MOSFET devices
2017/2018 FRANCHINI, GIULIO
Caratterizzazione della tecnica di lock-in thermography nella failure analysis di dispositivi elettronici integrati
2014/2015 DAMBRUOSO, TOBIA
Caratterizzazione sperimentale dei fenomeni di instabilità di soglia in memorie flash NAND a 16nm
2012/2013 RAIMONDI, DAVIDE
Caratterizzazione sperimentale di celle di memoria per array 3D
2010/2011 TAGLIAFERRI, MASSIMO
Characterization and modeling of current transport and polarization switching in FTJs
2021/2022 FRANCHINI, GIULIO
Cryogenic Operation of 3D NAND Flash Memories: a Numerical Study
2023/2024 Zerbini, Daniele
Developments of automated ESD verification flow in smart power ICs
2015/2016 MAINARDI, SAMUELE
Experimental and theoretical investigation of unsupervised learning in a NOR flash array
2018/2019 FILIPPI, MATTEO
Fenomeni transitori e instabilità di soglia in memorie flash scalate
2009/2010 BERTELE', ANDREA
Impact of few-electron phenomena on the operation and reliability of nanoscale Flash memories
PAOLUCCI, GIOVANNI MARIA
Investigation of the emerging physical mechanisms limiting the reliability of nanoscale Flash memories
MICCOLI, CARMINE
Investigation on a neuromorphic digit classifier based on NOR flash arrays
2017/2018 PETRÒ, SIMONE
Metodologie di simulazione e caratterizzazione signal and power integrity su probe card per applicazioni EWS
2014/2015 CASULA, GIOVANNI
Modellistica compatta di matrici di memoria NAND flash
2010/2011 PAOLUCCI, GIOVANNI MARIA
Modellistica e simulazione di sensori AMR di campo magnetico
2014/2015 ZIMBALATTI, RICCARDO
Modello del DCP nelle memorie 3D NAND Flash
2021/2022 MONCELLI, VITO FRANCESCO
Numerical simulation of RDF and RTN in 3D NAND
2020/2021 Chen, Ziyu
A PWM based neuromorphic hand-written digit classifier with NOR Flash memories
2019/2020 Gangemi, Simone
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